+ A
A -
الدوحة - قنا - التقى سعادة السيد أحمد بن عبد الله الجمال رئيس الهيئة العامة للجمارك، السيد فيشال أمين منسق حقوق الملكية الفكرية للولايات المتحدة الأميركية والوفد المرافق له، وذلك ضمن زيارته للبلاد بهدف مناقشة انفاذ حقوق الملكية الفكرية مع عدد من الجهات الحكومية بالدولة. وتم خلال اللقاء بحث سبل التعاون بين الجانبين فيما يتعلق بالإجراءات والتدابير الجمركية المطبقة لحماية الملكية الفكرية في دولة قطر، ومناقشة آليات انفاذها بما يضمن حقوق شركات التصنيع الكبرى وأصحاب العلامات التجارية المسجلة في الدولة.
copy short url   نسخ
22/09/2019
932